X射线荧光分析法的原理·特点

图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理

X射线荧光的产生原理

X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。

满足所有领域不同的应用

■ 电子·电气
·RoHS指令、无卤素等筛选分析
·半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析

■ 汽车·机械
· 应对ELV指令的筛选分析
· 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测

■ 钢铁·非金属
· 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析
· 炉渣的组成分析

■ 矿业
· 选矿工艺的成色鉴别分析

■ 窑业
· 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析

■ 石油·石油化学
· 油中硫元素的分析
· 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析

■ 化学工业
·无机·有机原料和产品分析
·催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析

■ 环境
· 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析

■ 医药
· 合成时的残留催化剂分析
· 原药中不纯物分析、异物分析

■ 农业·食品
· 土壤、肥料、植物的分析
· 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析

■ 其它
· 考古学样品及宝石成分分析
玩具·日用品中有害重金属元素测定等

有设计感的外观

460mm宽的紧凑身材，配备大容量的样品室

460mm宽的紧凑身材，与我公司以往机型相比尺寸减少20%。
而紧凑的机身，却拥有zui大可放置200（W）×275（D）×约100（H）mm样品的大型样品室。

识别度高的LED显示灯

产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯将会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。

“初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi

为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。

凭直觉操作的浅显简单画面，使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。

简洁的界面
在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。

在测定界面上可以直接切换准直器
可以一边观察样品图像，一边切换准直器直径。
同时，选定的直径用黄色圆圈表示。

自动保存样品图像
测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。

测定结束后，与样品画面一起，元素名、浓度、3δ（测定的标准偏差）均会在同一界面清楚显示。轻松点击鼠标，即可看到《分析结果一览》或《报告》。

使用转台时的测定准备画面（样品位置确认时）

同样适用于连续分析

PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。
可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。

分析性能

采用高性能的SDD检测器，确保硬件zui佳化，具有高灵敏度·高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000/8100）。

高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍-

高性能的SDD检测器与zui佳化的光学系统和一次滤光片的组合，实现高灵敏度。
从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。

高速 –分析速度zui大可提高10倍-

SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到zui大限度的发挥。

测定时间与标准偏差（定量值偏差）的关系

X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度（重现性）。
搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000/8100与以往型号相比，能够在更短的时间内保证分析精度。

满足分析精度所需的检测时间

高分辨率

与配置以往Si（Li）半导体检测器的型号相比，能量分辨率更胜一筹。
不同元素峰值重叠的影响减小，提升可靠性。

能量分辨率的比较（样品：PPS树脂）

无需液氮

SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。

检测元素范围

· 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。
· 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。

EDX-8000/8100进行超轻元素分析

EDX-8000/8100搭载的SDD检测器窗口采用极薄的薄膜特殊材料，能够检测碳（C）、氧（O）、氟（F）超轻元素。

用EDX-8100检测氟元素的分析结果